中盛科技 RFID測(cè)試系統(tǒng)

1、RFID測(cè)試系統(tǒng)概述

1.1RFID測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

　　中盛科技設(shè)計(jì)UHF RFID標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試系統(tǒng)通過信號(hào)分析儀進(jìn)行信號(hào)采集以及定制的信令單元為硬件平臺(tái)，配合符合RFID標(biāo)準(zhǔn)的一致性測(cè)試軟件，實(shí)現(xiàn)了全面的RFID測(cè)試。該測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)完整的射頻指標(biāo)測(cè)試和協(xié)議層測(cè)試，涵蓋了ISO/IEC 18000-6B、ISO/IEC 18000-6C等以及C1G2標(biāo)準(zhǔn)，參考ISO/IEC 18047-6、18046-3以及國(guó)內(nèi)的RFID標(biāo)準(zhǔn)試行規(guī)定實(shí)現(xiàn)了對(duì)UHF RFID讀寫器和標(biāo)簽的標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試。

　　同時(shí)，根據(jù)UHF RFID實(shí)際使用中的遇到的讀寫器和標(biāo)簽的碰撞問題和干擾問題，提供了碰撞測(cè)試和碰撞原因分析工具，實(shí)現(xiàn)了對(duì)RFID設(shè)備碰撞問題的診斷和分析，便于快速優(yōu)化讀寫器以及系統(tǒng)應(yīng)用設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)是業(yè)內(nèi)唯一實(shí)現(xiàn)完整的RFID符合性測(cè)試并提供碰撞測(cè)試和干擾測(cè)試的系統(tǒng)測(cè)試方案。

　　許多廠家的頻譜儀都可以支持RFID測(cè)試系統(tǒng)，如泰克的實(shí)時(shí)頻譜儀RSA5103A，R&S的實(shí)時(shí)頻譜儀FSVR以及安捷倫的信號(hào)分析儀MXA。

　　信號(hào)分析儀或者實(shí)時(shí)頻譜儀通過對(duì)信號(hào)的捕獲采集，可以將讀寫器和標(biāo)簽的信號(hào)全部采集下來并數(shù)字化，通過軟件進(jìn)行協(xié)議分析和射頻分析，得到完整的RFID測(cè)試結(jié)果。當(dāng)前業(yè)內(nèi)主流信號(hào)分析儀完全滿足RFID系統(tǒng)數(shù)字化、智能化、瞬態(tài)信號(hào)的測(cè)試需求。

　　中盛科技設(shè)計(jì)的RFID測(cè)試軟件Real RFID實(shí)現(xiàn)了對(duì)RFID 信號(hào)射頻分析和協(xié)議分析，同時(shí)獨(dú)特的操作性和人性化的顯示效果成為了業(yè)內(nèi)最方便使用分析RFID信號(hào)的系統(tǒng)。

獨(dú)特的RFID過程化分析，把讀寫器和標(biāo)簽的波形和其對(duì)應(yīng)的命令進(jìn)行一一對(duì)應(yīng)，并解析出命令的協(xié)議內(nèi)容，該功能對(duì)讀寫器的研發(fā)和標(biāo)簽的研發(fā)具有非常強(qiáng)的指導(dǎo)作用。

1.2標(biāo)簽/讀寫器性能測(cè)試

　　標(biāo)簽/讀寫器性能測(cè)試是指測(cè)試其作為產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)全面性與可靠性。

　　對(duì)于標(biāo)簽的測(cè)試主要包括（1）寫響應(yīng)速度（2）防碰撞效率（3）內(nèi)存格式支持能力等。

　　對(duì)于讀寫器測(cè)試主要包括（1）防碰撞能力（2）批量盤點(diǎn)能力（3）盤點(diǎn)抗干擾能力（4）讀寫速度處理響應(yīng)時(shí)間等。

1.3標(biāo)簽/讀寫器射頻一致性測(cè)試

　　標(biāo)簽/讀寫器射頻一致性是指測(cè)試其發(fā)射或反射的無線信號(hào)質(zhì)量，測(cè)量無線信號(hào)關(guān)鍵參數(shù)，分析無線信號(hào)傳輸環(huán)境的好壞，并對(duì)無線信號(hào)進(jìn)行解調(diào)與譯碼，同時(shí)核對(duì)其與當(dāng)?shù)責(zé)o線電頻率管理部門規(guī)范的匹配度，從而避免不合格產(chǎn)品對(duì)無線電頻譜造成干擾。

　　射頻一致性測(cè)試主要包括：（1）頻率譜密度測(cè)試；（2）中心頻率測(cè)試；（3）信號(hào)帶寬測(cè)試；（4）信號(hào)帶外干擾測(cè)試；（5）信號(hào)能量測(cè)試；（7）信號(hào)包絡(luò)測(cè)試；（8）信號(hào)解調(diào)測(cè)試；（9）信號(hào)譯碼測(cè)試；（10）時(shí)域上升/下降沿測(cè)試；（11）調(diào)制深度測(cè)試等。

1.4標(biāo)簽/讀寫器協(xié)議一致性測(cè)試

　　協(xié)議一致性測(cè)試系統(tǒng)主要是測(cè)試標(biāo)簽協(xié)議層的實(shí)現(xiàn)與標(biāo)準(zhǔn)要求的匹配程度，例如查看狀態(tài)機(jī)覆蓋是否完整、跳轉(zhuǎn)是否正確，強(qiáng)制性指令與可選性指令的實(shí)現(xiàn)程度，讀寫器發(fā)送命令與標(biāo)簽返回信息的時(shí)間間隔落是否在標(biāo)準(zhǔn)中要求的范圍之內(nèi)等。

　　協(xié)議一致性測(cè)試主要包括：（1）物理層協(xié)議測(cè)試（幀結(jié)構(gòu)、符號(hào)速率、調(diào)試編碼方式）；（2）狀態(tài)機(jī)測(cè)試；（3）指令協(xié)議測(cè)試；（4）協(xié)議處理時(shí)間分析（T1/T2/T3/T4時(shí)間測(cè)試）；（5）讀寫器防碰撞協(xié)議分析（碰撞概率、Q值調(diào)整策略分析）；（6）內(nèi)存格式分析；（7）前導(dǎo)序列檢測(cè)等。

1.5總體框圖

　　RFID測(cè)試系統(tǒng)的整體的硬件結(jié)構(gòu)框圖如下圖所示：